Instrument Database
MAPEX Ger?tedatenbank
Finden Sie Ihre Analyse
Hier finden Sie analytische Ger?te, die in den MAPEX Gruppen zur Verfügung stehen. Verschiedene Filter sowie die Suchfunktion helfen Ihnen dabei, sich über die Analysemethoden zu informieren und mit den zust?ndigen Ger?tebetreibenden in Kontakt zu treten.
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Ger?t
HerstellerFastScanning AFM
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force Microscopy
KernmerkmaleFast scans (> 125 Hz) Air or fluid environments; Range of 90 ?m x 90 ?m; Reduced noise levelKontakt -
Ger?t
HerstellerJPK Nanowizard III
JPK Berlin GermanyUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force Microscopy
KernmerkmaleSub-nm resolution; Compatible with liquid and biological samples; Force spectroscopy mode availableKontakt -
Ger?t
HerstellerRc-VSI
Bruker/RenishawUntersuchungsgebieteTechnikRaman spectroscopy coupled with Vertical Scanning Interferometry
KernmerkmaleRaman equipped with 785 nm and 532 nm class 3B lasers; Interferometer equipped with 5x; 20x; 50x; 115x objectives; White light scanning and monochromatic phase shift modes availableKontakt -
Ger?t
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnik3D Laser Lithography
Kernmerkmale3D laser lithography; Direct laser writing; Structure fabrication; Surface modificationKontakt -
Ger?t
HerstellerPL?2300 Sensofar
Sensofar-Tech, S.L.UntersuchungsgebieteTechnik3D Profilometery
KernmerkmaleConfocal conventional and interferometer microscopeKontakt -
Ger?t
HerstellerBELSORP-mini
MicrotracBEL Corp.UntersuchungsgebieteTechnikVolumetric Gas Adsorption
KernmerkmaleSpecific surface area; Pore size distribution; N2 and CO2 adsorption; BETKontakt -
Ger?t
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikElectron Microprobe Analysis
Kernmerkmale5 x-ray spectrometers, one for light elementsKontakt -
Ger?t
HerstellerSurPass streaming potential measurement
Anton PaarUntersuchungsgebieteTechnikZeta potential
KernmerkmaleAnalysis of bulk material, flat surfaces, porous samples, particles or beadsKontakt -
Ger?t
HerstellerTA Instruments DHR-3
TA InstrumentsUntersuchungsgebieteTechnikRheology
KernmerkmaleEquipped with a 2-d couette interfacial shear geometryKontakt -
Ger?t
HerstellerOCA-1
DataphysicsUntersuchungsgebieteTechnikDrop Shape Profilometry
KernmerkmaleContact angle and surface tension measurements; Dilatational viscoelastic properties of interfacesKontakt -
Ger?t
HerstellerDual Beam Helios G4 PFIB
ThermoFisherUntersuchungsgebieteTechnikElectron/Ion beam
KernmerkmaleDual beam SEM (electrom, ion), EDX, EBSD, ToF-SIMSKontakt -
Ger?t
HerstellerDimension Icon XR
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force Microscopy
Kernmerkmale-Kontakt -
Ger?t
Hersteller(AR)XPS/UPS/LEED/TPD
SPECSUntersuchungsgebieteTechnikThermal programmed desorption
Photoemission spectroscopy
Low-energy Electron Diffraction
Kernmerkmale-Kontakt -
Ger?t
HerstellerHelios 600
FEI / ThermoFisherUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
KernmerkmaleCryo-FIB, Slice&ViewKontakt -
Ger?t
HerstellerQuattro S
Thermo Fisher ScientificUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
Thermomechanical Analysis
KernmerkmaleEnvironmental scanning of biological materials at low vacuum (up to 2000 pa) and different humidity and/or temperature conditions.Kontakt