Allgemeine Informationen

• Untersuchungsgebiete

  Surface Analytics
• Techniken

  Atomic Force Microscopy
  
• Hersteller

  Bruker
• Herstellungsjahr

  2021
• Gemessene Gr??e

  RMS, surface morphology
• Hauptanwendung

  Measuring of surface morphology

Spezifikationen des Ger?ts

• Technische Aspkete

  Features of the AFM: ScanAsyst, DCUBE-TUNA, DCUBE-SCM, FAST TAPPING, KPFM,  NanoLithography, NanoMan, NanoScope Realtime, PeakForce QNM, Ramp&Hold

Kontaktperson

• Anwendungswissenschaftler

  Eickhoff, Martin
  Fachbereich 1
  NW1 M4070 Institut für Festk?rperphysik
  Telefonnummer 0421 218 62220
  martin.eickhoffprotect me ?!uni-bremenprotect me ?!.de
• Hinz, Alexander
  Fachbereich 1
  NW1 M4100 Institut für Festk?rperphysik
  Telefonnummer 0421 218 62216
  ahinzprotect me ?!uni-bremenprotect me ?!.de
• Führender Anwendungswissenschaftler

  Eickhoff, Martin
  

Ger?testandort

• Gruppe

  AG Festk?rpermaterialien
• Geb?ude

  NW1
• Raum

  O0070
• Fachbereich

  Fachbereich 1
• Institut Der Universit?t Bremen

  IFP