Instrument Database
Surface Analytics
FastScanning AFM

Allgemeine Informationen
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Untersuchungsgebiete
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TechnikenAtomic Force Microscopy
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HerstellerBruker
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Herstellungsjahr2015
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Gemessene Gr??eSurface heights, Surface forces, Mechanical properties
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HauptanwendungAnalysis of chemical kinetics during dissolution/ corrosion, growth, and adsorption of materials
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In-situ, real-time kompatibelJa
Spezifikationen des Ger?ts
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Technische Aspkete
Scan head for fast measurements (100 Hz), FOV = 30 ?m x 30 ?m
Low noise level < 200 pm RMS
Second scan head for large FOVs up to 80 ?m x 80 ?m
Measurement modes include contact, tapping, phase imaging, force spectroscopy, electrochemical potential
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In-situ-M?glichkeitenMeasurements in fluid cells with fluid temperature up to 60°C
Kontaktperson
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AnwendungswissenschaftlerAndreas Lüttge
Fachbereich 5
GEO
Telefonnummer 0421-218-65233
aluttgeprotect me ?!marumprotect me ?!.de -
Cornelius Fischer
Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf
Telefonnummer +493512604660
c.fischerprotect me ?!hzdrprotect me ?!.de -
Führender AnwendungswissenschaftlerAndreas Lüttge
Ger?testandort
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GruppeMineralogy
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Geb?udeGEO
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Raum3220
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FachbereichFachbereich 5