Allgemeine Informationen

• Untersuchungsgebiete

  Electron Microscopy
• Techniken

  Transmission Electron Microscopy
  
• Hersteller

  FEI
• Herstellungsjahr

  2007
• Gemessene Gr??e

  Morphological quantities, Elemental distribution, Strain distribution
• Hauptanwendung

  (Scanning) transmission electron microscopy
• In-situ, real-time kompatibel

  Ja
• Korrelierter Arbeitsablauf verfügbar

  Ja
• Einrichtung

  Der Zugang zu diesem Ger?t ist über die MAPEX Core Facility for Materials Analytics m?glich.

Spezifikationen des Ger?ts

• Technische Aspkete

  Electron energy loss spectrometer;

  EDX detector and HAADF detectors;

  Tomography holder;

  Heating(RT-1000°C)/cooling(lN2-70°C) holder;

  Electron biprism

   

• In-situ-M?glichkeiten

  Temperatures (RT-1000°C, lN2-70°C), Electrical biasing
• Korrelierter Arbeitsablauf

  Correlation with FIB/SEM and any other technique that allows marking of specimen positions for FIB/SEM

Kontaktperson

• Anwendungswissenschaftler

  Thorsten Mehrtens
  Fachbereich 1
  NW1, M4190
  Telefonnummer 0421/218/62273
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• Marco Schowalter
  Fachbereich 1
  NW1, M4180
  Telefonnummer 042121862263
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• Führender Anwendungswissenschaftler

  Andreas Rosenauer
  

Ger?testandort

• Gruppe

  AG Rosenauer
• Geb?ude

  NW1
• Raum

  O0050
• Fachbereich

  Fachbereich 1
• Institut Der Universit?t Bremen

  IFP