Allgemeine Informationen

• Untersuchungsgebiete

  X-Ray Diffraction
• Techniken

  Single-crystal X-ray Diffraction
  
• Hersteller

  Bruker
• Herstellungsjahr

  2014
• Gemessene Gr??e

  X-ray diffraction (XRD) patterns
• Hauptanwendung

  Single-crystal X-ray diffraction
• In-situ, real-time kompatibel

  Ja
• Einrichtung

  Der Zugang zu diesem Ger?t ist über die MAPEX Core Facility for Materials Analytics m?glich.

Spezifikationen des Ger?ts

• Technische Aspkete

  microfocus source

• In-situ-M?glichkeiten

  Measurements from100 K to 293 K

Kontaktperson

• Anwendungswissenschaftler

  Enno Lork
  Fachbereich 2
  
  Telefonnummer
  enno.lorkprotect me ?!uni-bremenprotect me ?!.de
• Führender Anwendungswissenschaftler

  Beckmann, Jens